Empleo de funciones que simula el perfil de difracción de rayos-x para caracterizar el estado micro estructural de un material
Detalles de publicación: Callao 1999Descripción: 54ISBN:- fiq3207
- PIQ/000069/M77
Contenidos:
Empleo de funciones que simulan el perfil de una lñinea de difracción de rayos-x para caracterizar el estado micro estructural de un material.
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Signatura topográfica | Estado | Notas | Código de barras | |
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| Informe Final de Investigación | Biblioteca Especializada FIQ Cuarto Piso | PIQ/000069/M77 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Disponible | Interno | FIQifi72 |
Empleo de funciones que simulan el perfil de una lñinea de difracción de rayos-x para caracterizar el estado micro estructural de un material.
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