Estadística descriptiva y probabilidad. Enfoque por competencias / Yenny Bayona Sambrano; Kelva Llanos Miranda; Edwin Cerna Figueroa; Silvia Pajuelo Rojas
Idioma: Español Perú: Fondo Editorial Sn Ignacio de Loyola, 2016Edición: 1a. ediciónDescripción: 384 páginas tablas, cuadros, figuras. 29 cmISBN:- 978-612-4119-79-8
- 519.53/M84
Contenidos:
Conceptos básicos y organización de datos. Medidas de tendencia central y no central. Medidas de variabilidad asimetría y curtosis. Probabilidades. Variable aleatoria. Distribuciones discretas importantes. Distribuciones continuas importantes. Distribuciones muestrales.
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Signatura topográfica | Estado | Notas | Código de barras | |
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| Libro | Biblioteca Especializada FIEE Sótano | 519.53/M84 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Disponible | Interno | FIEE53620 |
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| 519.53/C78/V.I Estadística aplicada a la investigación. Introducción | 519.53/C78/V.II Estadística aplicada a la investigación. Cuadros y gráficos | 519.53/C78/V.II Estadística aplicada a la investigación. Cuadros y gráficos | 519.53/M84 Estadística descriptiva y probabilidad. Enfoque por competencias | 519.53/M88 Estadística descriptiva. Conceptos y aplicaciones | 519.53/M88 Estadística descriptiva. Conceptos y aplicaciones | 519.53/M88 Estadística descriptiva. Conceptos y aplicaciones |
Conceptos básicos y organización de datos. Medidas de tendencia central y no central. Medidas de variabilidad asimetría y curtosis. Probabilidades. Variable aleatoria. Distribuciones discretas importantes. Distribuciones continuas importantes. Distribuciones muestrales.
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