01148nam a2200193Ia 450000500170000000800410001702000100005808200200006810000350008824500420012325000120016526000420017730000120021950504000023194200080063199900170063995201490065695201490080520250107234255.0250106s2014    xx            000 0 und d  a15629  a621.37/R47/P.II  aReyes Ponce, Ysabel...[et al.] 0aFundamentos de metrología. Parte II  a2a. ed.  aLa HabanabPueblo y educaciónc2014  a731eNo  aMediciones de temperatura. Mediciones eléctricas. Mediciones magnéticas. Mediciones de tiempo y frecuencia. Mediciones químicas. Mediciones de radiaciones ionizantes. Automatización y control de procesos industriales. Nanotecnología. Competencia técnica de los laboratorios de ensayó y de calibración. Calidad de las mediciones. Infraestructura legal y normativa en metrología.  cLIB  c72811d72811  00104070aUBCBLLbUBCBLLcPPS2d2017-04-05eDonacionfRegularg48.00l0o621.37/R47/P.IIp52393r2025-01-08 00:09:24w2025-01-08yLIBzExterno  00104070aUBCBLLbUBCBLLcPPS2d2017-01-30eDonacionfRegularg45.00l0o621.37/R47/P.IIp51786r2025-01-08 00:09:35w2025-01-08yLIBzExterno