Estadística descriptiva y probabilidad. Enfoque por competencias / Yenny Bayona Sambrano; Kelva Llanos Miranda; Edwin Cerna Figueroa; Silvia Pajuelo Rojas

Por: Colaborador(es): Idioma: Español Perú: Fondo Editorial Sn Ignacio de Loyola, 2016Edición: 1a. ediciónDescripción: 384 páginas tablas, cuadros, figuras. 29 cmISBN:
  • 978-612-4119-79-8
Tema(s): Género/Forma: Clasificación CDD:
  • 519.53/M84
Contenidos:
Conceptos básicos y organización de datos. Medidas de tendencia central y no central. Medidas de variabilidad asimetría y curtosis. Probabilidades. Variable aleatoria. Distribuciones discretas importantes. Distribuciones continuas importantes. Distribuciones muestrales.
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Libro Biblioteca Especializada FIEE Sótano 519.53/M84 (Navegar estantería(Abre debajo)) Disponible Interno FIEE53620

Conceptos básicos y organización de datos. Medidas de tendencia central y no central. Medidas de variabilidad asimetría y curtosis. Probabilidades. Variable aleatoria. Distribuciones discretas importantes. Distribuciones continuas importantes. Distribuciones muestrales.

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