000			00886nam a2200157Ia 4500
005			20250107234143.0
008			250106s1994 xx 000 0 und d
020			_a10509
082			_aP.I/530/M77
100			_aMontero Arteaga, Wimpper
245		0	_aMedida de la posición y ancho de una linea de difracción
260			_aCallao _c1994
300			_a37 _eSí
505			_aEste trabajo trata sobre los diversos factores instrumentales que ensanchan en distinto grado, forma e intensidad las líneas de los patrones de difracción. Sobre la producción, la naturaleza y las propiedades de los rayos X. Sobre los efectos instrumentales que causan ensanchamineto del contorno de las líneas de difracción. Sobre los métodos de medición de la posición de las líneas en el espectro de difracción. Algunas conclusiones y sugerencias. Bibliografia. Figuras y tablas.
942			_cIFI
999			_c67923 _d67923