000			00924nam a2200157Ia 4500
005			20250107234144.0
008			250106s2000 xx 000 0 und d
020			_a10580
082			_aP.I/530/M77u
100			_aMontero Arteaga, Wimpper
245		0	_aUn método rápido para analizar los anchos de lineas de difracción usando la función de Voigt
260			_aCallao _c2000
300			_a56 _eSí
505			_aEl ensanchamiento observado del perfil de las líneas de difracción de Rayos-X, es atribuido a efectos propios del instrumental y de la micro estructura del espécimen, los cuales se asume son bien representados por la función de Voigt. Para comparación se muestra una gráfica de ajuste, sobre los mismos datos de la línea 400 del cobre, empleando la función de Cauchy y la función de Gauss, la cual evidencia que la función de Voigt ajusta bien a los perfiles de línea ensanchados.
942			_cIFI
999			_c67993 _d67993