Un método rápido para analizar los anchos de lineas de difracción usando la función de Voigt
Montero Arteaga, Wimpper
Un método rápido para analizar los anchos de lineas de difracción usando la función de Voigt - Callao 2000 - 56 Sí
El ensanchamiento observado del perfil de las líneas de difracción de Rayos-X, es atribuido a efectos propios del instrumental y de la micro estructura del espécimen, los cuales se asume son bien representados por la función de Voigt. Para comparación se muestra una gráfica de ajuste, sobre los mismos datos de la línea 400 del cobre, empleando la función de Cauchy y la función de Gauss, la cual evidencia que la función de Voigt ajusta bien a los perfiles de línea ensanchados.
10580
P.I/530/M77u
Un método rápido para analizar los anchos de lineas de difracción usando la función de Voigt - Callao 2000 - 56 Sí
El ensanchamiento observado del perfil de las líneas de difracción de Rayos-X, es atribuido a efectos propios del instrumental y de la micro estructura del espécimen, los cuales se asume son bien representados por la función de Voigt. Para comparación se muestra una gráfica de ajuste, sobre los mismos datos de la línea 400 del cobre, empleando la función de Cauchy y la función de Gauss, la cual evidencia que la función de Voigt ajusta bien a los perfiles de línea ensanchados.
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P.I/530/M77u