Un método rápido para analizar los anchos de lineas de difracción usando la función de Voigt (Registro nro. 67993)

Detalles MARC
000 -LIDER
Campo de control de longitud fija 00924nam a2200157Ia 4500
005 - FECHA Y HORA DE ULTIMA TRANSACCION
Campo de control 20250107234144.0
008 - ELEMENTOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACION GENERAL
Campo de control de longitud fija 250106s2000 xx 000 0 und d
020 ## - INTERNATIONAL STANDARD BOOK NUMBER
ISBN 10580
082 ## - NUMERO DE CLASIFICACION DECIMAL DEWEY
Número de clasificación P.I/530/M77u
100 ## - ASIENTO PRINCIPAL--NOMBRE PERSONAL
Nombre personal Montero Arteaga, Wimpper
245 #0 - TITULO
Título Un método rápido para analizar los anchos de lineas de difracción usando la función de Voigt
260 ## - PUBLICACION, DISTRIBUCION, ETC.
Lugar de publicación Callao
Fecha de publicación 2000
300 ## - DESCRIPCION FISICA
Páginas 56
Material acompañante Sí
505 ## - NOTA DE CONTENIDO
Nota de contenido El ensanchamiento observado del perfil de las líneas de difracción de Rayos-X, es atribuido a efectos propios del instrumental y de la micro estructura del espécimen, los cuales se asume son bien representados por la función de Voigt. Para comparación se muestra una gráfica de ajuste, sobre los mismos datos de la línea 400 del cobre, empleando la función de Cauchy y la función de Gauss, la cual evidencia que la función de Voigt ajusta bien a los perfiles de línea ensanchados.
942 ## - CAMPOS ADICIONALES (KOHA)
Tipo de ítem Informe Final de Investigación
Existencias
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        Unidad de Biblioteca Central, Banco de Libros y Librería Unidad de Biblioteca Central, Banco de Libros y Librería Primer Piso-Referencia 19/02/2008 Donación Regular   P.I/530/M77u BCpi346 08/01/2025 08/01/2025 Informe Final de Investigación Interno