Fundamentos de metrología. Parte II
Reyes Ponce, Ysabel...[et al.]
Fundamentos de metrología. Parte II - 2a. ed. - La Habana Pueblo y educación 2014 - 731 No
Mediciones de temperatura. Mediciones eléctricas. Mediciones magnéticas. Mediciones de tiempo y frecuencia. Mediciones químicas. Mediciones de radiaciones ionizantes. Automatización y control de procesos industriales. Nanotecnología. Competencia técnica de los laboratorios de ensayó y de calibración. Calidad de las mediciones. Infraestructura legal y normativa en metrología.
15629
621.37/R47/P.II
Fundamentos de metrología. Parte II - 2a. ed. - La Habana Pueblo y educación 2014 - 731 No
Mediciones de temperatura. Mediciones eléctricas. Mediciones magnéticas. Mediciones de tiempo y frecuencia. Mediciones químicas. Mediciones de radiaciones ionizantes. Automatización y control de procesos industriales. Nanotecnología. Competencia técnica de los laboratorios de ensayó y de calibración. Calidad de las mediciones. Infraestructura legal y normativa en metrología.
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