Fundamentos de metrología. Parte II
Detalles de publicación: La Habana Pueblo y educación 2014Edición: 2a. edDescripción: 731 NoISBN:- 15629
- 621.37/R47/P.II
Contenidos:
Mediciones de temperatura. Mediciones eléctricas. Mediciones magnéticas. Mediciones de tiempo y frecuencia. Mediciones químicas. Mediciones de radiaciones ionizantes. Automatización y control de procesos industriales. Nanotecnología. Competencia técnica de los laboratorios de ensayó y de calibración. Calidad de las mediciones. Infraestructura legal y normativa en metrología.
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Signatura topográfica | Estado | Notas | Código de barras | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Libro | Unidad de Biblioteca Central, Banco de Libros y Librería Primer Piso-Sala 2 | 621.37/R47/P.II (Navegar estantería(Abre debajo)) | Disponible | Externo | 52393 | |
| Libro | Unidad de Biblioteca Central, Banco de Libros y Librería Primer Piso-Sala 2 | 621.37/R47/P.II (Navegar estantería(Abre debajo)) | Disponible | Externo | 51786 |
Mediciones de temperatura. Mediciones eléctricas. Mediciones magnéticas. Mediciones de tiempo y frecuencia. Mediciones químicas. Mediciones de radiaciones ionizantes. Automatización y control de procesos industriales. Nanotecnología. Competencia técnica de los laboratorios de ensayó y de calibración. Calidad de las mediciones. Infraestructura legal y normativa en metrología.
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