Un método rápido para analizar los anchos de lineas de difracción usando la función de Voigt
Detalles de publicación: Callao 2000Descripción: 56 SíISBN:- 10580
- P.I/530/M77u
Contenidos:
El ensanchamiento observado del perfil de las líneas de difracción de Rayos-X, es atribuido a efectos propios del instrumental y de la micro estructura del espécimen, los cuales se asume son bien representados por la función de Voigt. Para comparación se muestra una gráfica de ajuste, sobre los mismos datos de la línea 400 del cobre, empleando la función de Cauchy y la función de Gauss, la cual evidencia que la función de Voigt ajusta bien a los perfiles de línea ensanchados.
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Signatura topográfica | Estado | Notas | Código de barras | |
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| Informe Final de Investigación | Unidad de Biblioteca Central, Banco de Libros y Librería Primer Piso-Referencia | P.I/530/M77u (Navegar estantería(Abre debajo)) | Disponible | Interno | BCpi346 |
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El ensanchamiento observado del perfil de las líneas de difracción de Rayos-X, es atribuido a efectos propios del instrumental y de la micro estructura del espécimen, los cuales se asume son bien representados por la función de Voigt. Para comparación se muestra una gráfica de ajuste, sobre los mismos datos de la línea 400 del cobre, empleando la función de Cauchy y la función de Gauss, la cual evidencia que la función de Voigt ajusta bien a los perfiles de línea ensanchados.
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